电子探针(EPMA)主要用途是对样品微区的化学组成定性和定量分析、定量线分析、定量面分析、化学价态和痕量元素分析,主要应用领域包括各种地质样品中矿物的形貌、结晶形态、成分分析(检测限可达几十个ppm);材料学主要用于材料微区成分分析,如对无铅焊锡材料中Ag的区域面分析;在矿物加工领域,主要利用EPMA对矿石、精矿、尾矿及浸入残渣以及冶炼产物等样品进行快速矿物定量分析,确定矿物组成和有价元素赋存状态;在医学领域,主要用于靶向给药示踪(如肿瘤细胞中铂络合物的分布图像)和骨骼微结构和成分分析。
本实验室配备有日本JEOL公司最新的JXA-iHP200F型场发射电子探针显微分析仪,主要用于矿物材料的微区定量元素分析,同时可满衍射、散射、反射和CT影像X射线分析平台。本实验配备了衍射和小角散射装置,可以实现对样品的物相分析和纳米颗粒的粒径分布分析等,主要用于地质、环境、材料、矿物加工等专业领域。主要参数如下:
检测元素范围
| WDS: Be*1 / B to U, EDS: Be to U
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检测X-ray 范围
| 波长范围WDS: 0.087 to 9.3 nm; 能量范围EDS: 20 keV。 |
谱仪数
| WDS:4个, EDS: 1个
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最大样品尺寸 | 100 mm × 100 mm × 50 mm (H)
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二次电子像分辨率 | ≤2.5nm (30kV, 110-11 A, 工作距离11mm)
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束斑尺寸 | ≤20nm (10kV, 110-8 A, 工作距离11mm)
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加速电压
| 1~ 30kV(步长:0.1kV)
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束流范围
| 10-12~3×10-6 A
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图像放大倍数
| ×40~×300,000
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X射线出射角
| 40°
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安装地点
| 资环楼122B实验室
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负责人
| 陈军(15085938656);李秀财(15155973365)
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