场发射电子探针显微分析仪
发布时间: 2024-06-18 浏览次数: 13

电子探针(EPMA)主要用途是对样品微区的化学组成定性和定量分析、定量线分析、定量面分析、化学价态和痕量元素分析,主要应用领域包括各种地质样品中矿物的形貌、结晶形态、成分分析(检测限可达几十个ppm);材料学主要用于材料微区成分分析,如对无铅焊锡材料中Ag的区域面分析;在矿物加工领域,主要利用EPMA对矿石、精矿、尾矿及浸入残渣以及冶炼产物等样品进行快速矿物定量分析,确定矿物组成和有价元素赋存状态;在医学领域,主要用于靶向给药示踪(如肿瘤细胞中铂络合物的分布图像)和骨骼微结构和成分分析。

本实验室配备有日本JEOL公司最新的JXA-iHP200F型场发射电子探针显微分析仪,主要用于矿物材料的微区定量元素分析,同时可满衍射、散射、反射和CT影像X射线分析平台。本实验配备了衍射和小角散射装置,可以实现对样品的物相分析和纳米颗粒的粒径分布分析等,主要用于地质、环境、材料、矿物加工等专业领域。主要参数如下:

检测元素范围
WDS: Be1   / B to U,  EDS: Be to U
检测X-ray 范围

波长范围WDS: 0.087 to 9.3 nm

能量范围EDS: 20 keV

谱仪数
WDS:4,    EDS: 1
最大样品尺寸100 mm × 100 mm × 50 mm (H)
二次电子像分辨率≤2.5nm (30kV, 110-11 A, 工作距离11mm)
束斑尺寸≤20nm (10kV, 110-8 A, 工作距离11mm) 
加速电压
1 30kV(步长:0.1kV
束流范围
10-123×10-6 A
图像放大倍数
×40×300,000
X射线出射角
40°
安装地点
资环楼122B实验室
负责人
陈军(15085938656);李秀财(15155973365